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環(huán)境水質(zhì)/污水監(jiān)測(cè)儀器

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農(nóng)業(yè)和食品分析儀器

實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備

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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)介
	HAD-ST2722半導(dǎo)體四探針電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)定儀	半導(dǎo)體四探針電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)定儀 ST2722 型半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四端子法或四探針?lè)y(cè)試粉末電阻率的測(cè)量?jī)x器。
	HAD-BR-DXB電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀	電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀 HAD-BR-DXB型半導(dǎo)電屏蔽橡塑材料體積電阻率測(cè)試儀是高、化綜合電阻測(cè)量實(shí)驗(yàn)組合裝置，它主是為產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)、電線電纜檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、高校、材料檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室等實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)電屏蔽電阻率和半導(dǎo)體橡塑材料體積電阻率制作的。
	HAD-M-3手持式四探針測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀	手持式四探針測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀 HAD-M-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
	KDK-KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀	四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。
	KDK-KDY-1A便攜式四探針電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀	便攜式四探針電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定。
	KDK-KDY-4四探針電阻率測(cè)試儀	四探針電阻率測(cè)試儀 KDK-KDY-4型四探針電阻率測(cè)試儀嚴(yán)格按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，并針對(duì)目前常用的四探針電阻率測(cè)試儀存在的問(wèn)題加以改進(jìn)。
	KDK-KDY-2兩探針電阻率測(cè)試儀/二探針電阻率測(cè)試儀/兩探針儀（測(cè)鍺）	兩探針電阻率測(cè)試儀/二探針電阻率測(cè)試儀/兩探針儀（測(cè)鍺） KDK-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱兩探針儀）是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針?lè)ā薄?/textarea> </span></td> </tr> </tbody> <tr> <td align="center" bgcolor="#FFFFFF"> <a href="/bjhadkj-Products-23383206/" target="_blank" title="KDK-KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀 "><img src="http://img66.chem17.com/gxhpic_fc0d88b042/4b8cd55bb9473d45dc6510049d08ed4d82af8ba87af318365dac7126fcba99c36111fe57625dbd12_100_100_5.jpg" alt="KDK-KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀 " border="0" /></a> </td> <td width="150" align="center" bgcolor="#FFFFFF" class="zw"> <a href="/bjhadkj-Products-23383206/" target="_blank" title="KDK-KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀 ">KDK-KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀 </a> </td> <td bgcolor="#FFFFFF"><span id="63prbmj4j" class="postText"> <textarea name="textarea" cols="10" rows="8" readonly="readonly" class="inputkuang" id="textarea" style="border-width:0px;height:100px;width:100%;background-color: Transparent;">四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/方阻測(cè)試儀/ 四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。
	JH-WSP-11四探針電阻率測(cè)試儀	四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/電阻率測(cè)試儀 1、連接好測(cè)試探頭電纜與主機(jī)，接上電源。 2、儀器顯示開機(jī)界面“-J-H-”，等待幾秒鐘進(jìn)入測(cè)試界面。 3、調(diào)節(jié)厚度，按‘+’、‘-’調(diào)節(jié)，如圖所示，數(shù)值為3.98mm。
	JH-WSP-3電阻率測(cè)試儀	電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
	JH-WSP-7便攜式型號(hào)電阻率測(cè)試儀	便攜式型號(hào)電阻率測(cè)試儀 1. 便攜式，使用9V供電 2. 具有電阻率及型號(hào)測(cè)試功能，適合分選型號(hào)，并能夠測(cè)試并顯示出電阻率的值。 3. 預(yù)設(shè)樣片厚度，自動(dòng)修正，直讀電阻率
	CH-WSP-6半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀	半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀 CH-WSP-6型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測(cè)定的設(shè)備,測(cè)定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是硅料分選測(cè)試的理想工具。

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