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產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡介
HAD-BR-DXB電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測試儀
電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測試儀 HAD-BR-DXB型半導(dǎo)電屏蔽橡塑材料體積電阻率測試儀是高、化綜合電阻測量實驗組合裝置,它主是為產(chǎn)品質(zhì)量檢測機構(gòu)、電線電纜檢測實驗室、高校、材料檢測實驗室等實現(xiàn)半導(dǎo)電屏蔽電阻率和半導(dǎo)體橡塑材料體積電阻率制作的。
HAD-M-3手持式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀
手持式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 HAD-M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
KDK-KDY-1四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀 四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。
KDK-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀
便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國家標準測試方法有關(guān)規(guī)定。
KDK-KDY-4四探針電阻率測試儀
四探針電阻率測試儀 KDK-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴格按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準,并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
KDK-KDY-2兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀(測鍺)
兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀(測鍺) KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”。
KDK-KDY-1四探針電阻率測試儀
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/ 四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份(簡稱:主機)、測試架及四探針頭組成。
JH-WSP-11四探針電阻率測試儀
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測定儀/電阻率測試儀 1、連接好測試探頭電纜與主機,接上電源。 2、儀器顯示開機界面“-J-H-”,等待幾秒鐘進入測試界面。 3、調(diào)節(jié)厚度,按‘+’、‘-’調(diào)節(jié),如圖所示,數(shù)值為3.98mm。
JH-WSP-3電阻率測試儀
電阻率測試儀 電阻率測試儀是運用四探針測量原理的綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
JH-WSP-7便攜式型號電阻率測試儀
便攜式型號電阻率測試儀 1. 便攜式,使用9V供電 2. 具有電阻率及型號測試功能,適合分選型號, 并能夠測試并顯示出電阻率的值。 3. 預(yù)設(shè)樣片厚度,自動修正,直讀電阻率
CH-WSP-6半導(dǎo)體電阻率測試儀
半導(dǎo)體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 CH-WSP-6型半導(dǎo)體電阻率測試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設(shè)備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米,是硅料分選測試的理想工具。
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