ST-102E型探針測試臺(英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機(jī)。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量的中間測試。
技 術(shù) 指 標(biāo) :
粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;小刻劃:1°; 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm
標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺、顯微鏡、USB接口CCD攝像頭、三維微調(diào)座2個、探針臂2支、探針2支。可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
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第14年