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新產(chǎn)品-非接觸電阻率測(cè)試儀 非接觸厚度測(cè)試儀 非接觸方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào)：HAD-JXNR-1

一、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.非接觸測(cè)量硅半導(dǎo)體材料的電阻率

2.適合測(cè)試硅片，不損傷樣品表面。

3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、打印

4.軟件界面直觀友好

5.樣片校準(zhǔn)快速、方便

二、推薦工作條件

1． 溫度：23±2℃

2． 濕度：60%~70%

3． 無(wú)強(qiáng)光照、無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近

三、參數(shù)指標(biāo)

1．整機(jī)尺寸：340mm×260mm×150mm

2．電阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝

3．誤差范圍：±5%

4．硅片厚度：適合150-600um厚度