探針測試臺/測試臺/中測臺/點測機/探針測試臺 型號；GSZ-ST-102A GSZ-ST-102A型探針測試臺 、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量的中間測試。 | 技 術 指 標 ： | 工作臺面 | 370mm*245mm | | 載物臺直徑 | 4" | | 光學參數(shù) | 總放大率：50-100倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm； | | 旋轉臺 | 粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm | | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關控制；
zui多可布三維探針座6個；
探針臂伸出長度：60mm；
探針長度：40mm； | | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm； | | |
標準配置：主工作臺、顯微鏡、承片臺、三維微調(diào)架2個、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
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