非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接觸方塊電阻測試儀 型號：HAD-JXNR-1 一、產(chǎn)品特點 1.非接觸測量硅半導(dǎo)體材料的電阻率 2.適合測試硅片，不損傷樣品表面。 3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲、打印 4.軟件界面直觀友好 5.樣片校準(zhǔn)快速、方便 二、推薦工作條件 1． 溫度：23±2℃ 2． 濕度：60%~70% 3． 無強(qiáng)光照、無強(qiáng)磁場、不與高頻設(shè)備鄰近 三、參數(shù)指標(biāo) 1．整機(jī)尺寸：340mm×260mm×150mm 2．電阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝ 3．誤差范圍：±5% 4．硅片厚度：適合150-600um厚度 北京恒奧德科技有限公司 電 話：/51666869/
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